OIM Analysis™ 第 8 版

随着各项全新功能和特性的到来,OIM Analysis™ 第 8 版重新设置了 EBSD 数据分析功能的标准,使用户能够对微观结构表征产生新的认识。
OIM Analysis™ v8 used to improve initial data (left) with ChI-Scan™ reindexing (right) for accurate phase mapping on an Al-Si alloy (primary phase - red, eutectic phase - blue)
新功能包括:
  • 多线程运行 — 优化代码利用现代多核 CPU 来实现更快的面分布取值、突出显示和特性计算
  • EBSD 花样标定 — 能够采用 EDAX 的三条带组标定法、ChI-Scan™ 和 Neighbor Pattern Averaging and Reindexing (NPAR™) 技术在扫描电子显微镜 (SEM) 离线时对 OIM 面分布数据进行重新标定
  • 非晶粒分析 — 可表征未标定数据点
  • 交互式图表 — 当两个 EBSD 测量值相对关联时,可视化它们之间的关系
  • HDF5 支持 — EBSD 花样保存为 HDF5 格式,与 HR-EBSD 的 Cross Court 兼容
  • 关联显微镜 — 导入空间特定测量值用于可视化和校正分析
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