Elite T EDS系统

Elite T是用于透射电子显微镜(TEM)的全新一代能谱仪,其快速硅漂移探头采用了 最先进的集成电子器件。
EDAX Elite T EDS System

Elite T是用于透射电子显微镜(TEM)的全新一代能谱仪,其快速硅漂移探头使用最先进的集成电子器件。采用独特的几何设计和强大的定量算法,为所有透射电镜的应用提供优化的分析解决方案。

立体角增大以优化结果
Elite T能谱采用了独特的几何设计以达到最佳采集效果。采用双探头设计时,立体角高于2sr,极大的提高了计数率,有利于快速采集数据,尤其是对于采集敏感样品。

Spectrum showing a SiO2 sample collected by the Elite T.
Elite T采集的SiO2样品谱线.

无窗设计

Elite T采用可选无窗设计。该设计:
  • 提升了探头的轻元素敏感性
  • 提高了低剂量样品的面分布采样速度和轻元素检测性能
  • 可使传感器位置设置更加灵活,以获得最大信号曝光量


生命科学中的应用,含氮细菌的电子图像及元素分布图,展示了探头对轻元素的灵敏性

特点及优势

集成的数据采集和信号处理电器件
  • 降低了噪音,提升了信噪比,提高了检测极限

探头内置智能设置
  • 无需用户介入即可自动返回安全位置

自动校正算法
  • 快速,可重复且精准的设定

TEAM™ 软件包可优化分析时间,获得样品最佳结果
  • 智能定量 – TEAMTM内置几种强大的定量算法
  • 智能追踪 – 保证最优工作距离
  • EXpert ID – 革命性的一步式峰识别技术
  • 智能面分布 – 自动鉴定样品中所含元素并计算采样时间
  • 智能漂移 – 监视漂移影响并动态调整参数
  • 智能数据管理 – 提升软件易用性并提供简便的文件管理系统


TEAM™ EDS 软件界面最大化了显示区域,且能快速找到所有功能区

结论
与TEAM™ 软件相结合的Elite T EDS系统是透射电镜应用中最直观且极具易用性的分析工具,提供集成的数据采集和信息处理能力,此外还配置智能模块以引导设置和分析过程。无窗设计的硅漂移探头可最大化采集效率,优化轻元素检测性能。
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