TEAM™ 用于 TEM 的 EDS 系统

采用 Octane 硅漂移探测器 (SDD) 系列的 TEAM™ EDS 分析系统可为透射电子显微镜 (TEM) 提供终极分析解决方案。这些系统专为具有智能功能的 TEM 和 STEM 配备,使其更加直观、使用更简单。
TEAM™ EDS for TEM

通过整合并利用多年积累的 EDAX 知识与技能,工作流程功能可实现自动化。由于 TEAM™ EDS 软件可自动完成每项任务,因此启动、分析和报告操作十分轻松。这是唯一一项将智能决策和新手指导与针对熟练用户的高级功能相结合的 EDS 技术。现在,您的每一步操作均拥有 EDS 专家般的智慧。

智能功能、出色结果

用于 TEM 的 TEAM™ EDS 软件系统经专门设计,旨在节省时间,确保为各类应用提供准确、可重现的结果。无论是简单地收集谱图还是执行复杂的相分析,此系统及其触摸屏功能均可轻松快速地提供您想要的结果。TEAM™ EDS 分析系统拥有现代化的用户界面,经优化后可在多内核及多处理器环境下运行。此系统为启动、分析和报告操作提供一系列任何其他系统内均没有的智能功能。构成此功能的核心部分包括:

启动

智能跟踪 (Smart Track) 的环境面板可监控系统状态,报告探测器等的运行条件,以及允许高级控制。智能采集功能可自动执行日常任务,简化使用并节省时间。

分析

TEAM™ EDS 解决方案适用于 TEM 和 STEM。智能相分布通过自动收集谱图,生成包含元素分布及相关能谱的相图,将能谱分析提升至全新水平。点分析和线扫描利用新一代的 Expert ID,快速轻松地完成所选区域内单个点及多个点的测量。针对超薄材料的 TEM 量化算法是根据 Cliff-Lorimer 方法进行快速准确的分析。

报告

智能数据复查 (Smart Data Review) 采用创新布局和项目树,可快速复查和报告图片、分布图及谱图,并可在报告中编辑动态数据。

关注WordPress.com