Orbis MC 微束 XRF 分析仪

标准 Orbis 分析仪非常适合需要分析大颗粒或大特征的应用,包括刑事取证和工业质量控制工作。该仪器配备行业领先的 LN-Free X 射线硅漂移探测器和可放大 10 倍及 100 倍的彩色摄像机,配备 300 µm 的单毛细管光学元件、初级入射束滤光系统及标准精度电动 XYZ 样品台和 Genesis DPP 分析仪。
Orbis MC Micro XRF Analyzer
标准 Orbis SDD 组件包括:
  • 铑管(50 kV,50 W)
  • 300 µm 单毛细管光学元件
  • 自动一次入射束 or 自动入射束(打开位置、6 个过滤器、快门)
  • 双 CCD 相机:10x 彩色;100x 彩色
  • 高级 30 mm2 硅漂移探测器 (SDD)。无需液氮
  • 标准精度,计算机控制的 XYZ 样品台
  • 样品室:真空或空气
  • 数字信号电子分析仪
  • 操作软件:自动分析和定量程序,包括:
    • 有标样或无标样基本参数分析
    • 使用基本参数分析在轻元素基体中进行痕量元素分析
    • 使用标样校准进行半经验分析
选项:
  • 样品室视窗,4.9" x 4.9" (124 mm x 124 mm) 可视范围
  • 高级 50 mm2 硅漂移探测器 (SDD)
  • 钼管(50 kV,50 W)
  • 100 µm 单毛细管光学元件代替 300 µm 单毛细管光学元件
  • 与单毛细管光学元件连接的自动准直仪(1 mm 和 2 mm);通过软件控制选择
  • 软件:谱分布图、图像处理软件、线扫描、涂层分析、光谱匹配、合金识别以及用于数据处理的离线分析软件
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