TEAM™ WDS 分析系统

TEAM™ WDS 分析系统将 TEAM™ 软件平台易于使用且直观的工作流程融入了 WDS 的分析功能之中,为所有用户带来最佳分辨率和痕量元素分析。
TEAM™ WDS

TEAM™ 分析系统增添了波长色散 (WDS) 功能,它将三个微区分析流程 — 能量色散谱仪 (EDS)、电子背散射衍射 (EBSD) 及 WDS 简化为一个界面,从而快速、轻松地提供对材料最深入的了解。

TEAM™ WDS 分析系统将 TEAM™ 软件与平行光束 WDS 波谱仪配对。为了弥补 EDS 分析在轻元素分析中的不足,或当元素峰位重叠导致严重问题时,分析人员通常会使用波长色散 X 射线波谱仪 (WDS)。WDS 具有更出色的分辨率和灵敏度,可分离重叠峰,有效揭示痕量元素,让用户更加清楚地了解样品化学成分。WDS 既可用于定性分析,也可用于定量分析。

波谱仪软件

TEAM™ WDS 有两款平行光束波谱仪产品,TEXS 高精度 (HP) — 过渡元素 X 射线波谱仪。

  • TEXS HP 配有毛细管光学元件,可产生平行 X 射线束,经优化后适合分析低能量段和过渡元素能量段,工作能量范围为 150 eV 至 10 keV(B Ka 至 Cu Ka)。
  • TEXS 均标配五块衍射晶体,旨在解决一系列客户特定的应用需求。
  • 此外,该系统的机械设计使其可装配在扫描电子显微镜 (SEM) 的大部分 EDS 端口,与其他 WDS 系统相比,用户可更自由地进行系统配置。

TEAM™ WDS 分析软件

TEAM™ WDS 具有智能聚焦 (Smart Focus) 功能,这是一个全自动聚焦程序,对 WDS 分析进行了全面显微镜优化。此关键功能基于 WDS 光学元件优化了样品台位置,以保证每种元素均具有最高强度。通过确保第一次迭代就可获得最高质量的数据,智能聚焦 (Smart Focus) 将 WDS 分析的速度和易用性提升到了一个全新水平。凭借智能聚焦 (Smart Focus),用户只需选择一个元素或一个能量范围,点击鼠标三次,就可解决一个 EDS 谱峰重叠,无需担心聚焦光束。

应用
TEAM™ WDS 可完美地解决以下问题:
  • 低电压显微分析 — 低于 5 keV 的 X 射线数据为仅有的数据。WDS 的分辨率需要达到所需的准确度,无论定性分析还是定量分析。
  • 峰重叠 — 特别是在 4 keV 和 10 keV 的能量之间,过渡元素的 K 线和难熔元素的 L 线明显重叠。
  • 痕量分析 — 科学家可能需要确定基体内痕量元素的含量。
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