TEAM 分析系统增加了X射线波谱分析 (WDS) 功能，它将三个微区分析常规流程 — X射线能谱分析(EDS)、电子背散射衍射 (EBSD) 及 WDS 简化为一个界面，从而快速、轻松的提供对材料最深入的了解。
TEAM WDS 分析系统将 TEAM 软件与平行光束 WDS 分析仪配对。为了对EDS 的轻元素分析加以补充，或当元素峰位重叠导致严重问题时，分析人员通常会使用X 射线波谱仪 (WDS)。WDS 具有更出色的分辨率和灵敏度，可分离重叠峰，有效揭示痕量元素，让用户更加清楚地了解样品化学成分，可同时用于定性分析和定量分析。
波谱仪硬件
TEAM WDS 有两款Lambda波谱仪可供选择。
- Lambda Plus – 配备多毛细管光学元件，使过渡元素能量段150 eV 至 10 keV（B Ka 至 Ge Ka）具有最大效能。
- Lambda Super – 采用专利申请中的高采集率X射线双反射光学系统，为轻元素特别是B、C、N和O的检测提供了终极效能。和多毛细管光学元件结合，将高强度扩展到16 keV，使总的检测范围覆盖100 eV至16 keV。
- • 此外，该系统的机械设计使其可装配在扫描电子显微镜 (SEM) 的大部分 EDS 端口，与其他 WDS 系统相比，用户可更自由地进行系统配置。
TEAM WDS 分析软件
TEAM WDS 具有智能聚焦 (Smart Focus) 功能，这是一个全自动聚焦程序，对 WDS 分析进行了全面显微镜优化。此关键功能基于 WDS 光学元件优化了样品台位置，以保证每种元素均具有最高强度。通过确保第一次迭代就可获得最高质量的数据，智能聚焦 (Smart Focus) 将 WDS 分析的速度和易用性提升到了一个全新水平。凭借智能聚焦 (Smart Focus)，用户只需选择一个元素或一个能量范围，点击鼠标三次，就可解决一个 EDS 谱峰重叠，无需担心聚焦光束。
应用
TEAM WDS 可解决以下问题：
- 低电压显微分析 — 低于 5 keV 的 X 射线数据为仅有的数据时，需要WDS 的分辨率来达到所需的准确度，无论定性分析还是定量分析。
- 峰重叠 — 特别是在 4 keV 和 10 keV 的能量之间，过渡元素的 K 线和难熔元素的 L 线明显重叠。
- 痕量分析 — 确定复合基体内痕量元素的含量。
资源
产品公告