X 射线测量

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    XLNCE SMX-BEN

    XLNCE SMX-BEN 为台式能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析仪,可针对几乎所有材料提供无损、组分和涂层厚度测量与分析。

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    XLNCE SMX-ILH

    XLNCE SMX-ILH XRF 系统是一个过程控制和产量管理平台,提供集成和远程模块配置,用于涂层组分的在线大气分析以及刚性与柔性基板的厚度测量。

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