XLNCE SMX-BEN

XLNCE SMX-BEN 为台式能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析仪,可针对几乎所有材料提供无损、组分和涂层厚度测量与分析,是研发、过程开发、过程控制和故障分析的绝佳选择。它可在生产之前或早期生产阶段促进和加速材料选择及配方制定,并支持引入生产过程平台工具以提高生产能力。
XLNCE SMX BEN XRF Analyzer

 

  • 为 X 射线光学元件和初级过滤器提供一系列选择
  • 配备最新一代的硅漂移探测器
  • 通过一道易于设置的流程提供经验和基本参数 (FP) 解决方案
  • 大型分析室
  • X-Y-Z 可编程位置

专业应用领域:
  • 光伏制造
  • 金属防护涂层
  • 晶圆级金属化和微电子
  • 腐蚀/磨损和热障分析

XLNCE SMX-BEN 以无可匹敌的性价比提供卓越性能和多功能性。

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