发展历程

Gatan 和 EDAX 已经合并为一体,合并后的组织将保留 Gatan 的名称,继续致力于为透射电镜(TEM)和扫描电镜(SEM)带来优异的工具组合。

我们是能量色散 X 射线谱(EDS)、电子背散射衍射(EBSD)、波长色散 X 射线谱(WDS) 和 X 射线荧光(XRF)系统的领跑者之一。EDAX 为业界头部半导体企业以及金属、地质、生物、材料和陶瓷市场提供高质量产品和系统的制造、营销和服务。

Gatan 隶属于 AMETEK。AMETEK, Inc. 是全球领先的工业技术解决方案供应商之一,服务于一系列引人瞩目的利基市场,年销售额超过 70 亿美元。

以下是一些具有里程碑意义的事件,体现了我们对保持科技领先地位的承诺,包括:

  • 2010s +


    2018

    发布用于Element EDS和 Octane Elect EDS 系统的APEX™ 1.3 软件

    2017

    获得Neighbor Pattern Averaging and Reindexing (NPAR™) 程序专利
    发布用于Element EDS 系统的APEX™ 1.1 软件
    推出 Octane Elect EDS 系统

    2016

    推出OIM Analysis™ 版本8.0
    发布用于台式扫描电子显微镜(SEM)的APEX™分析软件
    推出Octane Elite Plus和超级硅漂移探测器(SDD)
    推出XLNCE SMX-ILH在线XRF分析仪

    2015

    发布TEAM™ 4.3 软件
    推出Octane Elite硅漂移探测器(SDD)系列
    推出XLNCE SMX-BEN XRF分析仪

    2014

    推出Element SDD 系列
    发布TEAM™ 3D Imaging and Quant (IQ)
    推出Pattern Region of Interest Analysis System (PRIAS™),这是一项新的协同成像技术,用于可视化微结构,并提供新的材料视图
    推出用于透射电子显微镜的Octane硅漂移探测器系列

    2013

    推出速度更快,效率更高的Hikari XP和DigiView EBSD相机
    发布TEAM™ Neptune和TEAM™ Trident集成分析系统
    推出作为TEAM™分析系统一部分的WDS

    2012

    EDAX庆祝成立50周年
    推出Octane 硅漂移探测器(SDD)系列
    发布集成EDS和EBSD分析系统的TEAM™ Pegasus

    2011

    发布Orbis 微束XRF系统的涂层分析软件
    推出用于透射电子显微镜(TEM)的Apollo XLT SDD系列

    2010

    推出OIM 6.0软件

  • 2000s +


    2009

    推出TEAM™ EDS 分析系统
    推出Apollo X 和XL 硅漂移探测器系列

    2008

    推出Orbis 微束XRF 光谱仪
    推出Apex X射线显微分析系统
    推出DigiView IV 电子背散射衍射探测器
    发布EXpert ID革命性元素识别软件,随Genesis提供

    2007

    推出Apollo硅漂移探测器系列

    2006

    EDAX和SPECTRO分析仪器部成为新的AMETEK材料分析部的业务部门
    推出高速Hikari EBSD 探测器
    推出OIM 3D 数据采集和处理工具 
    推出 LambdaSpec (TEXS) 波长色散探测器

    2005

    推出 TEXS HP波长色散 X射线谱仪
    推出 Eagle III XPL 自动过滤器选项
    推出DigiView III CCD 探测器

    2004

    推出Trident三合一分析工具,结合了EDS、EBSD 和WDS
    推出Neptune;免费结合EDS和WDS用于精确X射线显微分析
    在Genesis中提供Element Detective

    2003

    推出第三代Eagle µ-Probe 微束XRF
    推出DigiView II firewire CCD 探测器

    2002

    推出Genesis系统,该系统包含与Genesis软件相结合的新硬件和多探测器选项
    推出Pegasus;EDS和EBSD一体化系统,优化同步数据采集
    推出三种用于显微分析的新型检测器:CryoSpec Si(Li)无液氮检测器、LambdaSpec (LEXS)波长色散检测器和MegaSpec硅漂移检测器
    发布ChI-Scan™软件,将元素组成结合到EBSD的标定过程中
    EDAX庆祝成立40周年!
    EDAX通过ISO 9001:2000标准的再次认证

    2001 

    AMETEK Inc.收购EDAX Inc.
    推出Genesis EDS软件,在整体易用性方面达到了新标准,同时保持灵活性和强大功能
    推出首款全数字EBSD探测器——DigiView 高速、高分辨率CCD探测器

    2000

    发布ViP软件,这是一款独创的量化程序,该程序可考虑并校正在低真空、可变压力SEM条件下工作时发生的电子束散射
    推出一款集成的EBSD/EDS相鉴定产品——Delphi
  • 1990s +


    1999

    EDAX收购了电子背散射衍射分析的行业先驱——TexSEM Laboratories (TSL)
    推出透射电子显微镜(TEM)自动化晶体学(ACT)

    1998


    推出Falcon EDS系统;价格低,性能优

    1997

    推出EAGLE µ-Probe——新一代微束XRF
    推出电脑平台上的OIM EBSD系统
    首次同步OIM/EDS扫描

    1996

    推出首款基于Windows NT的EDS系统——Phoenix
    推出Sapphire探测器系列:提供任一EDS探测器的最佳标准分辨率

    1995

    推出基于PC Windows 95的EDS系统——DX PRIME
    推出CryoSpec无液氮探测器

    1994

    OIM开发小组成立的TexSEM Laboratories (TSL) 推出首款上市销售的全自动EBSD系统

    1993


    推出DX-95 XRF系统
    ISO 9001认证

    1992

    推出世界首款、亦是最受欢迎的基于Windows的EDS系统——DX-4
    推出EDAX独创的紧凑检测单元(CDU)
    推出首款全自动EBSD系统(OIM)
  • 1980s +


    1987

    推出PV9800 EDS X射线显微分析系统

    1985

    推出PV9900 EDS X射线显微分析系统

    1984

    首款上市销售的EBSD系统(由TSL先驱者开发)

    1982


    由David Dingley博士在布里斯托尔大学开发的第一台计算机辅助电子背散射衍射(EBSD)系统
  • 1970s +


    1979

    推出PV9500 XRF系统

    1978


    推出PV9100 EDS X射线显微分析系统

    1972

    Nuclear Diodes 成为EDAX International, Inc.
    推出首款无窗探测器——ECON
  • 1960s +


    1969

    推出Nuclear Diodes 505——首款上市销售的应用于电子显微镜的X射线系统

    1964

    推出液氮冷却探测器

    1962


    公司以Nuclear Diodes的名字成立
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