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网络研讨会

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  • 报名参加“当前数据呈现和发表的一些问题”网络研讨会
    当前数据呈现和发表的一些问题

    星期四, 九月 15, 2022

    电子背散射衍射 (EBSD) 已成为在扫描电子显微镜 (SEM) 中表征晶体材料的常用技术。一项快速的文献调研显示,自 1997 年以来,已有超过 29,000 份单独的出版物提到了 EBSD 技术。不幸的是,在应如何呈现 EBSD 数据或包含哪些内容,几乎没有讨论或使其标准化的努力。本演讲将简要介绍 EBSD 技术,然后讨论将转到如何用适当的方式来呈现 EBSD 数据,并涉及到在已发表的文献中普遍观察到的一些问题和陷阱并涉及到在已发表的文献中普遍观察到的一些问题和陷阱。这些包括正确使用参考平面、数据“清洗”的准则、如何从单个选区真正了解样本的晶粒大小、要如何呈现 IPF 图以及如何描述以便其对读者更有用,除漂亮的EBSD图外需要提供什么以使其最有意义,最后讨论数据样本量。 EBSD 数据的深思熟虑的呈现可以使该技术超越创建漂亮图片的桎梏,并使 EBSD成为 被普遍接受的一种定量表征技术。


  • 成分差异法表征锂含量
    成分差异法表征锂含量

    星期四, 六月 30, 2022

    同其它技术相比,锂离子(Li-ion)电池具有出色的能量密度和轻量化等优势,因而广泛运用于各种储能应用中。但是在电池制造中,通过器件和材料的优化,仍然存在着显著提升容量和效率的潜力。尤其,由于在微米和纳米尺度上进行显微组织和成分分析面临着不小的挑战,在这些尺度上对于结构演化和退化机理的认识仍旧比较有限。在本次网络研讨会中,我们将向大家介绍一种新的表征技术——成分差异法表征锂含量(lithium composition by difference,Li-CDM),借助它能够为锂离子电池和航空航天应用中所用的含锂合金的研究带来新的潜力。我们将首次展示通过差异法在一系列含锂化合物和合金中获得的微观尺度上锂元素定量分布结果。相信这一新的表征手段将在锂材料的研究中大放异彩。


  • Clarity – 直接电子检测EBSD的发展及应用
    Clarity – 直接电子检测EBSD的发展及应用

    星期四, 五月 19, 2022

    Clarity EBSD探测器是 EDAX 首款商业化的直接电子检测电子背散射衍射(EBSD)探测器。凭借单电子灵敏度、零噪声和零失真,除传统应用外,Clarity 可用于全新的应用的表征。最近,EDAX宣布将Clarity Super添加到直接电子检测产品线中。该探测器经过优化,在电压低至 3 kV 时仍具有优异性能。由于在低束流和低电压能量下仍具有优异表现, Clarity Super 非常适用于电子束敏感材料的分析。另外,使用 Clarity 能获得高保真的 EBSD 花样质量,还有利于进行HR-EBSD 和伪对称分析的应用。本次网络研讨会将介绍Clarity EBSD探测器系列,并将讨论其一系列应用。


  • 2D 和 3D 实验观测比较通过钛和 Ti-5Al-2.5Sn 晶界的滑移传输
    2D 和 3D 实验观测比较通过钛和 Ti-5Al-2.5Sn 晶界的滑移传输

    星期四, 四月 28, 2022

    识别晶界滑移过程对于表征和建模来说都是复杂且具有挑战性的。为了能够对晶界附近的异质变形进行建模,必须要有观察可靠的有统计性的数据,因为与激活的滑移系统相结合的晶界取向差空间尺寸巨大。最近对 Ti-5Al-2.5Sn 中滑移转移(位错通过晶界的直接或间接传输)进行二维表征的工作提供了统计数据。然而,透射电子显微镜 (TEM) 提供的详细信息不具有统计性。此外,TEM 薄片的提取过程消除了驱动滑移转移过程的应力状态,并且观察结果可能不代表变形过程中发生的位错情况。为了消除这一限制,使用远场测量来观察纯钛中的滑移传输导致挛晶成核的 3D 研究,揭示了与表面测量中观察到的不同的约束情况。使用差分光栅 X 射线显微镜观察原位形变,可以对在负载下存在于晶界附近的几何必需位错 (GND) 进行微米级量化,因此也可得到晶界附近的与局部异质变形相关的并发局部弹性应力状态。从 GND 和局部应力状态分析中获得的信息表明,即使沿单个晶界,滑移的局部动力学也因地而异。


  • 如何结合Micro-XRF和SEM-EDS以优化材料的X-射线表征
    如何结合Micro-XRF和SEM-EDS以优化材料的X-射线表征

    星期四, 一月 20, 2022

    X-射线荧光(微束X-射线荧光)是利用传统XRF优势的无损分析技术,同时实现具有移动样品台的微束X-射线测量技术。它不需要样品制备和镀膜,并且样品的形状和高度可以是不规则的。与扫描电子显微镜(SEM)上的能量色散谱仪(EDS)相比,该技术提高了对更高原子序数Z的元素的检测极限和更大的分析深度。SEM-EDS具有较高的轻元素灵敏度并更适用于更小尺度的特征和更精确的定位。这两种技术都可以进行谱采集、线扫描和面分布图。本次网络研讨会将关注SEM-EDS和台式Micro-XRF分析的相对优势,并对如何将这两种技术结合在一起以优化材料的X-射线表征提出建议。