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Trident (EDS-EBSD-WDS)分析系统

Trident分析系统将X射线能谱(EDS)、电子背散射衍射(EBSD)和X射线波谱(WDS)的最新技术进展整合到了一款分析工具中。通过简单易用的 TEAM™ 分析软件中的智能功能,每项技术均可独立优化和使用,也可组合使用,实现无缝集成,从而带来全面的数据收集,然后在不同技术之间共享。
TEAM™ Trident maps

 

  • X射线能谱仪 (EDS)
  • 电子背散射衍射照相机 (EBSD)
  • X射线波谱仪 (WDS)

通过在单个平台上集成 EDS、EBSD 和 WDS 分析技术,Trident 分析系统可提供完整的材料表征解决方案。通过全面的数据收集和不同技术之间的共享,可确保实现无缝集成。每项技术均可单独使用,也可通过整合数据达到以往无法实现的结果。

X射线能谱仪 (EDS)

EDS 分析提供了从简单定性分析到高级定量计算所需的全套工具。

  • 无论操作经验水平如何,智能功能都可确保一致的数据采集、分析和报告
  • EXpert ID 采用分析智能分离重叠峰,识别微小峰

电子背散射衍射照相机 (EBSD)

EBSD 分析整合了EDAX分析软件的易用性与取向成像显微系统 (OIM) 的分析能力,从而为所有用户提供先进的晶体结构表征。

  • 置信度因子 (CI):专利认证的标定准确度
  • 获得专利的ChI-Scan™ 可实现卓越的多相分析,提升标定和相鉴定的准确性

X射线波谱仪 (WDS)

WDS 扫描可和EDS 能谱采集互补,生成准确的定性和定量分析结果

  • 自动样品定位,易于使用,获取最大信号强度
  • 高能量数据采集有助于解决棘手的峰位重叠问题
探测器和相机

Trident 结合了 Octane Elite EDS 硅漂移探测器 (SDD) 和为满足关键应用需求而设计的传感器。行业领先的电子器件保证在整个计数率范围内均具有出色的效率和分辨率。

对于EBSD,可供选择的型号有ClarityTM、Velocity™Super, Orion™ 和DigiView。Clarity™采用了直接检测EBSD花样的下一代成像技术,以提供无可比拟的EBSD花样采集和面扫描的灵敏度和质量。 Velocity™ Super 采用CMOS传感器,能对真实样品提供具有极高标定性能的高速EBSD面扫描。Orion™ EBSD相机系列将低噪音表现和快速采集相结合以保证优化采集和数据质量。DigiView是高分辨率分析的理想选择。

对于 WDS分析,Lambda WDS探测器可供选择。

Trident可为您解决困难的材料表征问题。通过快速轻松地提供晶体结构和元素成分结果,Trident让用户能够专注于材料分析工作,而非数据采集。

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