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  • 使用 EBSD 和 TKD 获得有关冷喷涂工艺流程的新见解
    网络研讨会—12月1日
  • 运用 Cipher 揭示微观尺度上的锂含量
    最新应用指南
  • 请阅读我们最新的应用指南“球形标定”
    应用指南
  • 阅读新的实验简报“在 EBSD 测试期间进行精确元素成分分析”
    实验简报
  • 注册即将到来的“EBSD 数据采集与分析的新工具”网络研讨会
    网络研讨会点播
  • 阅读我们新的“半导体器件元素的精确面分布——分离“重叠”峰”实验简报
    实验简报
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  • EDAX 推出 Velocity Ultra —— 速度更快的 EBSD 相机
    Velocity Ultra 登场

EDAX 概览

EDAX是一家领先供应商,提供包含能量色散谱(EDS)、电子背散射衍射(EBSD)、波长色散谱仪(WDS),微束X射线荧光光谱(Micro-XRF)和X射线计量学的创新材料表征系统。

EDAX产品包括独立工具、用于EDS-EBSD、EDS-WDS和EDS-EBSD-WDS的集成工具,以及独立的Micro-XRF台式元素分析仪,提供小束斑和微型束斑的X射线分析和面分布分析。

EDAX为需要元素和/或结构信息的微纳米材料表征开发出最佳解决方案,使分析变得更加简单和准确。

EDAX为许多行业、教育机构和研究机构设计、制造、分销和维护产品。

最新新闻

使用 EBSD 和 TKD 获得有关冷喷涂工艺流程的新见解
注册“使用 EBSD 和 TKD 获得有关冷喷涂工艺流程的新见解”网络研讨会—12月1日

主讲嘉宾 Luke Brewer 博士将会讨论两个案例,以展示 EBSD 和相关技术如何带来对于冷喷涂工艺流程的新理解

 

注册即将到来的“EBSD 数据采集与分析的新工具”网络研讨会
您错过了《EBSD 数据采集与分析的新工具》网络研讨会吗?您可以随时点播

在本次网络研讨会中,我们将会展示来自 Velocity Ultra, OIM Analysis v9, 以及球形标定的细节和实验结果,并就其给用户带来的独特好处进行讨论。

 

运用 Cipher 揭示微观尺度上的锂含量
请阅读我们最新的应用指南“Cipher 揭示微观尺度上的锂元素分布”

如何在扫描电子显微镜中对 NMC 正极材料中的锂含量进行定量测量

 

 

请阅读我们最新的应用指南“球形标定”
请阅读我们最新的应用指南“球形标定”

了解 OIM Analysis v9中新的基于谐波的球形标定如何将正向模型标定的稳健性与霍夫标定的速度和易用性相结合,以快速有效地改善电子背散射衍射(EBSD)分析