OIM Analysis™

OIM Analysis™ 是一项基于 EBSD 花样自动采集和分析的技术。此分布数据提供了关于取向、相分布、晶粒尺寸和形状、晶界结构、晶体微观结构局部形变的信息。OIM Analysis™ 几乎具有无限可能性,能够获取 OIM 扫描中包含的大量信息。
Orientation Imaging Microscopy (OIM) Analysis™
OIM Analysis™ 第 8 版的新功能™

随着各项全新功能和特性的到来,OIM Analysis™ 第 8 版重新设置了 EBSD 数据分析功能的标准,使用户能够对微观结构表征产生新的认识。点击此处查看关于 OIM Analysis™ 第 8 版的更多信息。

OIM Analysis™ 标准特征

  • OIM 面分布图:OIM 面分布图提供了各种丰富多彩且十分有用的图形,可帮助您深入了解材料的微观结构。
  • OIM 曲线:OIM 曲线显示所测微观结构的数值表示与统计信息,以便进行比较。
  • OIM 图表:OIM 图表可对所测取向和取向差分布实现可视化。
  • QuickGen 工具栏:QuickGen 工具栏是分析的直观起点,可快速访问常用的面分布图、曲线和图表。
  • OIM 模板:OIM 模板提供了一款易于使用的工具,用于对 OIM 数据进行重复的自定义分析。
  • 数据分区:数据分区可将 OIM 数据分解成不同的微观结构子集,以便能够分别测量不同部分。
  • 数据突出显示:数据突出显示使分析人员能够识别谱图和图表上的特定数据范围和微观结构特征。
  • 交互式分析:交互式分析使得分析人员能够对数据进行手动询问,以便提取目标信息。
  • OIM 批处理器:OIM 批处理器可轻松、一致地一次性完成多个数据集的准备和分析。
  • OIM 项目树:OIM 项目树是针对新手和高级用户的直观数据管理结构。
  • OIM Analysis™ EBSD 标定:即便采用最好的分析工具也可能会产生低质量初始数据。但是,OIM Analysis™ 拥有评估数据质量的工具,并通过使用 EBSD 花样重新标定模块进行优化。
  • 综合分析:综合分析为集成分析软件包内的各类重点分析提供了分组功能。
    • 高级晶粒分析
    • 高级织构分析
    • 高级晶界分析
    • 高级材料性能分析
    • 高级数据处理
  • OIM 3D 可视化:OIM Analysis™ 将全面的 EBSD 特性扩展到了 3D EBSD。

     

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