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EDAX OIM Analysis

EDAX OIM Analysis™ – 用于挖掘和理解电子背散射衍射 (EBSD) 面分布数据的高级微观结构可视化和分析工具。只需单击一下,即可了解这个强大的工具如何绘制大型多维数据集,或从其全面分析组合中提取有用数据,以表征具有挑战性的材料。OIM Analysis不仅提供了对材料特性的丰富的洞察力,而且对新手和专家用户都适用。

EDAX Orientation Imaging Microscopy (OIM) Analysis™

 

使用 Quick-Gen 在分析中抢占先机

  • 使用预定义的分析工具和模板一键展示最常见的功能

隆重介绍 OIM Analysis 9 和包含球形标定的 OIM Matrix
图 1. 自定义图显示 a) EBSD 图像质量和 IPF 取向图,b) 具有挛晶界的 PRIAS 和晶粒图,以及 c) 从高熵合金钎焊中去除挛晶后的晶粒图

  • 将您的自定义分析转换为一键式 Quick-Gen 模板,以便重复使用并缩短获得结果的时间
  • 使用批处理模板可重复地处理大型多维数据集或项目,以监测样品、时间或温度的微观结构变化

取向图和相图显示了原位加热过程中 BCC 铁素体相和 FCC 奥氏体相之间的转变。
图2. 取向图和相图显示了原位加热过程中 BCC 铁素体相和 FCC 奥氏体相之间的转变。

  • 突出显示目标区域并定义分区,以轻松识别和分离数据中的微观结构变化

在这个部分再结晶的钢样品中,可以单独识别和分析变形和再结晶区域,以更好地了解再结晶行为
图3. 在这个部分再结晶的钢样品中,可以单独识别和分析变形和再结晶区域,以更好地了解再结晶行为

提供了解样品所需的全面工具

  • 以 <0.01° 分辨率清晰地看到变形的微观结构,以提高取向精度并减少基于取向差的图中的噪点
  • 使EDAX 系统获得比 HR-EBSD 快 100 倍的同等或更好的取向结果

OIM Matrix 提高了取向精度,并消除了增材制造的 316L 合金的 KAM 图中的噪声。
图4. OIM Matrix 提高了取向精度,并消除了增材制造的 316L 合金的 KAM 图中的噪声。

  • 利用交互式图和图表来查询、链接、可视化和测量数据,以查找微观结构中的关键贡献者或异常值
  • 准确测量和量化不同目标区域内的取向差
  • 通过使用 ChI-Scan 同时分析 EDS 和 EBSD 数据,消除多相样品中的误标

相图显示了ChI-Scan如何使用EDS和EBSD的组合信息来消除相似晶体结构之间的误标,并展示清晰的相图。分别为ChI-Scan分析前(左)和后(右)的相位图。绿色相为可伐合金(FeNiCo),橙色相为铜,均具有FCC晶体结构。
图5. 相图显示了ChI-Scan如何使用EDS和EBSD的组合信息来消除相似晶体结构之间的误标,并展示清晰的相图。分别为ChI-Scan分析前(左)和后(右)的相位图。绿色相为可伐合金(FeNiCo),橙色相为铜,均具有FCC晶体结构。

为您的问题提供独有解决方案

  • 将球形标定与NPAR相结合,改善EBSD花样标定; 将以前无法识别的花样标定为可衡量的结果
  • 利用整套工具,通过独特的解决方案(如 NPAR、PRIAS 和球面索引)分析困难样品
  • 使用基于动力学衍射的花样模拟发现相似晶体结构之间的细微差异
  • 通过PRIAS成像检测样品,无需额外硬件即可自动提供取向、原子序数和形貌衬度信息

PRIAS 分布图显示出标准 SEM 探头在 EBSD 样品几何位向下通常无法观察到的物相、取向和拓扑衬度。
图 6. PRIAS 分布图显示出标准 SEM 探头在 EBSD 样品几何位向下通常无法观察到的物相、取向和拓扑衬度。

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