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艺术与保护
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EBSD 在考古学中的应用技术指南
古银脆化技术指南
法医学
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采用 EDS 分析枪击残留物应用指南
矿物学
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Experiment Brief: CPS Mapping and Normalization of a Vitamin Caplet Cross-Section
绿色冶金技术说明
生物矿物 OIM 分析技术指南
采矿和石油天然气应用分析测试的优化技术指南
材料科学
+
使用球形标定分析喷丸钛合金
ChI-Scan — 了解多相样品中的微观结构及量化的捷径
使用一体化EDS-EBSD技术进行完备表征
利用 EBSD 分析多晶裂纹技术指南
使用Gatan Ilion II系统进行Al/Mg块体材料的EBSD制备
从 EDS 到 WDS 带来的提升
评估 APEX EDS 软件中无标样 EDS 分析的准确性
使用 APEX 软件快速完成夹杂物和痕量元素的搜索
半导体器件元素的精确面分布——分离“重叠”峰
NPAR 与球形标定的组合 —— 解决极具挑战的 EBSD 标定问题的独特手段
Experiment Brief: CPS Mapping and Normalization of a Vitamin Caplet Cross-Section
花样尺寸和灵敏度对EBSD花样中噪声优化的影响
实验简报:用于对混凝土基础结构中盐渗透研究的微束 X-射线荧光谱分布图
在 EBSD 测试期间进行精确元素成分分析
实验简报: 样品表面和厚度对 EDS 面分布图的影响
获得更好的材料X射线表征:如何将Micro-XRF和SEM-EDS数据相关联
使用 EDAX Octane Elite Super EDS 探测器抓到镁合金样品中仅 0.5 wt% 稀土元素分布
使用Clarity提升锂离子电池正极材料的EBSD表征结果
光学材料的微结构分析
OIM Analysis 中的球形标定
采用 EDS 分析枪击残留物应用指南
提高EDS定量结果准确性的方法:效率及eZAF SCC数据库
提高EDS定量结果准确性的方法:eZAF MACC数据库和修正规避
金属
+
使用球形标定分析喷丸钛合金
联合 EDS-EBSD 表征定向凝固的 Al-Cu-Mg 共晶合金
表征增材制造316-L不锈钢的形变微观结构
ChI-Scan — 了解多相样品中的微观结构及量化的捷径
使用一体化EDS-EBSD技术进行完备表征
利用 EBSD 分析多晶裂纹技术指南
使用Gatan Ilion II系统进行Al/Mg块体材料的EBSD制备
EDAX OIM Analysis 9 – 更上一层楼
从 EDS 到 WDS 带来的提升
评估 APEX EDS 软件中无标样 EDS 分析的准确性
NPAR 与球形标定的组合 —— 解决极具挑战的 EBSD 标定问题的独特手段
实验简报: 具有超高强度和延展性的低温锻造纳米孪晶钛
使用 EDAX Octane Elite Super EDS 探测器抓到镁合金样品中仅 0.5 wt% 稀土元素分布
实验概要:多相CoRe合金的中间相分析
在 EBSD 测试期间进行精确元素成分分析
汽车应用的轻质结构材料应用指南
使用成分差异法对锂元素进行定量表征
不锈钢氧化皮的相区分
扫描电镜中锂元素的定量面分布
OIM Analysis 中的球形标定
矿物学
+
ChI-Scan — 了解多相样品中的微观结构及量化的捷径
从 EDS 到 WDS 带来的提升
评估 APEX EDS 软件中无标样 EDS 分析的准确性
使用 APEX 软件快速完成夹杂物和痕量元素的搜索
纳米/新兴技术
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EBSD 和热电元件技术指南
基于 EBSD 的无铅焊料分析技术指南
半导体器件元素的精确面分布——分离“重叠”峰
使用Clarity提升锂离子电池正极材料的EBSD表征结果
采用 EBSD 提高 3D 集成电路中硅基板穿孔可靠性应用指南
光学材料的微观结构分析技术指南
采用 EBSD 技术研究的薄膜光伏材料的微观结构表征
固体氧化物燃料电池和 EBSD 技术指南
钽溅射靶材的非均匀织构技术指南
使用 EBSD 改善添加剂制造金属的材料性能应用指南
可再生能源
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EBSD 在核能材料研究中的应用技术指南
XLNCE X 射线测量产品的涂层测量校准策略技术指南
采用EDAX仪器以解决氢经济相关材料中的应用问题
EBSD 和热电元件技术指南
使用Clarity提升锂离子电池正极材料的EBSD表征结果
采用 EBSD 技术研究的薄膜光伏材料的微观结构表征
采矿和石油天然气应用分析测试的优化技术指南
通过能量色散谱和阴极荧光谱定量分析太阳能电池中的痕量元素
固体氧化物燃料电池和 EBSD 技术指南
半导体
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无铅焊料与焊料薄膜分析应用指南
XLNCE X 射线测量产品的涂层测量校准策略技术指南
基于 EBSD 的无铅焊料分析技术指南
半导体器件元素的精确面分布——分离“重叠”峰
高分辨率 X 射线显微分析应用指南
采用 EBSD 提高 3D 集成电路中硅基板穿孔可靠性应用指南
光学材料的微观结构分析技术指南
金属 IC 互连薄膜的微观结构表征应用指南
高温超导体的 OIM 织构分析技术指南
碳化物沉淀相鉴定应用指南
钽溅射靶材的非均匀织构技术指南
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