APEX™ EBSD在用户友好的 APEX 软件平台中， 实现电子背散射衍射 （EBSD）花样的表征。结合强大的花样分析和直观的界面，您可以快速、轻松、可靠地收集和输出高质量的数据。APEX 与 EDAX 硬件搭配使用，提高了用户工作效率，并提供了用于微观结构表征的优化解决方案。
OIM Analysis™ 是一项基于 EBSD 花样自动采集和分析的技术。此面分布数据提供了关于取向、相分布、晶粒尺寸和形状、晶界结构、晶体微观结构局部形变的信息。
EDAX首次推出的商用电子背散射衍射 (EBSD) 检测器，具有极高灵敏度，探测电压能可至 3 kV 。 这种直接检测系统非常适合使用传统 EBSD 系统难以分析的电子束敏感钙钛矿、陶瓷或半导体材料。
Velocity EBSD相机提供具有超高标定性能的真实样品高速采集面分布图。
Neighbour Pattern Averaging＆Reindexing (NPAR™) 是一项通过电子背散射衍射 (EBSD) 花样测量晶体取向的创新方法。
OIM Matrix™软件包是OIM Analysis™的一个可选项, 可供用户进行基于电子衍射动力学物理原理的EBSD花样模拟。这种方法更准确的描述了电子和样品的相互作用行为。
Pattern Region of Interest Analysis System (PRIAS™) 是一项协同成像技术，可显示微观结构，并提供令人激动的关于材料的新视点。PRIAS 使用户能够快速表征
Atom Probe Assist 提供了一种监测 FIB 薄片之间晶界位置的创新方法，以确保检测到晶界，并对后续原子探针分析进行正确定位。