产品

  • Energy Dispersive Spectroscopy
    EDS

    EDAX EDS 系统配合电子显微镜用于分析材料中的元素。Element、Octane Elect 和 Octane Elite EDS 系统可用于不同水平的复杂分析。

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  • Electron Backscatter Diffraction
    EBSD

    EDAX EBSD 工具拥有先进的性能和开创性技术,利用 SEM 中产生的电子背散射衍射分析晶体微观结构。

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  • Wavelength Dispersive Spectrometry
    WDS

    EDAX 的 WDS 工具可弥补 EDS 分析在轻元素分析中的不足,或元素峰位重叠导致严重问题的情况。TEAM? WDS 分析系统配备两种波谱仪。

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  • Integrated Technologies
    一体化技术

    EDAX 在电子显微镜上实现了 EDS、EBSD 和 WDS 的无缝集成,使得材料的物理性质、化学成分和晶体结构之间直接相关。

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  • Micro X-ray Fluorescence
    微束 XRF

    EDAX? 的 Orbis 微束 XRF 系统标志着新一代微束 X 射线荧光系统的问世。X 射线源、光学元件和探测器可确保提供优异的分析结果。

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  • X-ray Metrology
    X 射线测量

    EDAX XLNCE X 射线测量产品采用无损 X 射线荧光 (XRF) 谱仪来测量复合材料和多层结构的成分和膜厚度。

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