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Lambda WDS分析系统

Lambda X射线波谱分析系统将EDAX WDS软件和最先进的波谱仪结合以改善准确性与精确性,保证材料分析的最佳结果。
Lambda WDS分析系统
为平行光束操作设计,Lambda波谱仪有两种型号:
  • Lambda Plus - 配备多毛细管光学元件,使过渡元素能量段150 eV 至 10 keV(B Ka 至 Ge Ka)具有最大效能。
  • Lambda Super - 采用专利申请中的高采集率X射线双反射光学系统,为轻元素特别是B、C、N和O的检测提供了终极效能。和多毛细管光学元件结合,将高强度扩展至16 keV,使总的检测范围覆盖100 eV至16 keV。

该系统的紧凑设计使其可方便的安装在任何标准X射线能谱仪(EDS) 端口上。Lambda波谱仪是EDS分析的绝佳补充工具。

EDS中硅的K线和钨的M线的重叠在WDS中能够被轻易的区分。
EDS中硅的K线和钨的M线的重叠在WDS中能够被轻易的区分。
扫描模式

Lambda波谱仪能够扫描整个能量范围以保证元素周期表中的每个元素都有至少一种X射线谱线被覆盖。

扫描模式选项包括:

  • 自动获取一种或多种EDS元素
  • 使用谱图Swipe Mode或手动输入为你的应用自定义扫描范围
  • 用户可选步长和速度
  • 对选择的元素采用谱峰和背底模式
    • 通过直观的元素周期表界面定义元素
    • 软件建议衍射晶体、峰和背底位置
定性和定量分析

具有智能定量功能的EDAX WDS软件为用户提供了定性和定量测量。同时采集和叠加EDS和WDS数据使定性确认更简单。分析人员可以选择一个技术(EDS或WDS)为所需的元素做定量分析以改善精确度和探测极限。

特点与优势

紧凑设计
  • 适用于所有具有高角度端口的SEM样品腔
  • 安装于标准EDS端口上 – 不需要专门的样品腔或端口
灵敏度
  • 结合X射线光学和紧凑设计以达到更高的计数率
和EDS相比,碳化硅中的碳在WDS中具有更好的分辨率。
和EDS相比,碳化硅中的碳在WDS中具有更好的分辨率。
高计数率和峰背比
  • 在可获得的最佳分辨率下的快速X射线分析
  • 优秀的过渡元素K线分辨率
  • 可解决大多数元素重叠
易于校准
  • 自动程序以改善操作、性能和数据准确度
和EDS无缝集成以及易用的软件
  • 对EDS和WDS用户提供直观的操作
  • 改善的X射线微区分析
  • 覆盖整个元素周期表
智能聚焦

智能聚焦程序是EDAX WDS软件的一个功能。这个自动化程序调整样品的高度使WDS信号聚焦,从而保证了发挥波谱仪的最佳性能。

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