性能优点
- 定制的 X 射线窗口技术能检测轻元素
- 专有的同轴光和 X 射线光路精确定位特定区域 - 消除来自邻近区域的 X 射线干扰
- 以 2.5 倍的更快速度采集光谱，以超过 3 倍的更快速度获取光谱面分布，来实现更大的分析通量
- 通过可编程的自动运行程序简化工作流程，以提高生产力并确保一致的高质量结果
Orbis II 的核心是其专利的轨道塔轮，并配备了增强的精密定位器，可以无缝对准 X 射线光轴与样品的高倍放大视图。配备可调的光斑尺寸，从 2 毫米到 30 微米，这一先进系统确保 X 射线始终聚焦在您需要的精确位置——消除了显微镜失调或样品高度变化导致的偏差。基于经过验证的 Orbis 平台，Orbis II 提供相同值得信赖的性能和可靠性，现在具有更高的精确性和控制能力——让您可以绝对自信地进行分析。
Orbis II 在微束 X 射线荧光分析中重新定义了速度和效率。配备高强度 X 射线源、改进的电子元件和更大面积的 X 射线探测器，它从样品中每秒获得超 100 万计数，并可以以每秒处理超过 45 万计数的速度进行采谱，速度是上一代的2.5倍以上。
增强的面分布和优化的移动控制将样品台移动时间缩短了 3 到 4 倍，从而实现更快、更高效的扫描。这些进步意味着您可以在更短的时间内获得更高质量的数据，从而每天分析更多的样本，并保持实验室在最佳生产力下运行。
图 1. Orbis II 利用一种专利的轨道塔轮，能够无缝地将 X 射线光轴与样品的高倍视图对准。
Orbis II有两个型号：Plus和Super。Orbis II Plus 配备一个30 mm2的 X射线探测器，具有专利的氮化硅窗口。其最大处理能力可达每秒25万计数（cps）。Orbis II Super 标准配备一个70 mm2 的 X 射线探测器和铍窗口，最大处理能力为 45 万 cps。Orbis II Super 还提供一个包括氮化硅窗口的选项，以满足您的分析需求。
Orbis Vision II 是一款为速度、简易性和精准度而设计的下一代软件平台，完善了整个系统的表现性能。
凭借简化的界面和现代直观的设计，它使用户能够执行成像、元素分析、面分布、定量和报告生成等功能——所有这些，只需更少的点击次数，具有更高的效率。
Orbis Vision II 基于严格的用户测试和真实世界的反馈，提供更智能、响应更快的体验，帮助您比以往更快地实现从设置到结果的过程。
图 2. 15 mm x 15 mm的地砖使用 50 kV 的管电压和 1,000 µA 的管电流进行扫描。30 µm 的多毛细管光学器件使得在 15 µm 的步进大小和 200 毫秒的像素时间下采集高分辨率面分布成为可能。
图 3. 显示EDAX Orbis II的两个不同窗口选项的透过曲线的图表。铍窗口（红色）在更高的x射线能量下表现出更高的透过率，而氮化硅窗口（绿色）在较低的x射线能量下表现更好。
资源
简介手册