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EDAX 概览

EDAX是一家领先供应商,提供包含能量色散谱(EDS)、电子背散射衍射(EBSD)、波长色散谱仪(WDS),微束X射线荧光光谱(Micro-XRF)和X射线计量学的创新材料表征系统。

EDAX产品包括独立工具、用于EDS-EBSD、EDS-WDS和EDS-EBSD-WDS的集成工具,以及独立的Micro-XRF台式元素分析仪,提供小束斑和微型束斑的X射线分析和面分布分析。

EDAX为需要元素和/或结构信息的微纳米材料表征开发出最佳解决方案,使分析变得更加简单和准确。

EDAX为许多行业、教育机构和研究机构设计、制造、分销和维护产品。

最新新闻

EDAX Insight Vol. 23 No. 4
免费下载 12 月的 EDAX Insight 快报

文章包括:EDS analysis of Au-WS2 core–shell nanoparticles – Alternative master patterns for spherical indexing: Improving time to results for OIM Matrix – Revealing the distribution of fluorine in battery cathodes with EDS and WDS mapping

 

敬请阅读我们最新的 EDAX 博客文章“Pretty isn’t enough – How to create maps with true meaning”
敬请阅读我们最新的 EDAX 博客文章“Pretty isn’t enough – How to create maps with true meaning”

探索高级 EDS 和 WDS 面分布技术如何帮助揭示 LMFP 正极中氟元素的真实分布,凸显了准确的元素分析对电池创新研究和材料开发的重要性。了解为何更深层次见解的重要性超过看起来“漂亮”的分布图。

 

使用EBSD的球形标定表征碳化硅多晶型
请阅读我们的最新应用简报:《使用EBSD的球形标定表征碳化硅多晶型》

学习 EBSD 和球形标定如何应用于测量不同碳化硅多晶型的晶体学相和取向。

 

查看我们的新应用简报:“使用大面积无窗EDS探测器在轻元素检测方面的突破”
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了解无窗 EDAX Octane Elite Ultra 探测器如何通过提升对轻元素及过渡金属 L 线的低能 X 射线的检测能力,信噪比提升高达 8 倍,以及增大面积活性区以增加信号采集效率,从而提升您的分析效果。