Element EDS 系统

Element 能量色散谱 (EDS) 系统为一款紧凑装置,分析能力十分强大,可最大限度提升性能和灵活性,同时提供简化操作以确保快速获得结果且易于使用。它专注于工业市场,而在工业市场中需要快速准确地解决产品应用问题。Element 硅漂移探测器 (SDD) 与用户友好型 APEX™ 软件相结合,为各种分析和高产率工业应用带来了完整的 EDS 微区分析解决方案。
Element Silicon Drift Detector
Element 硅漂移探测器
Element SDD 的设计采用了氮化硅 (Si3N4) 窗口,旨在优化低能段 X 射线透过率以优化轻元素分析。这类探测器的分辨率十分出色,且其先进的低噪声电子器件具有卓越的通量性能。Element SDD 占地面积小,因而十分灵活,可确保理想的几何形状及数据收集条件。探测器包含一张 30 mm2 的芯片,有两种型号可供选择:
  • 固定式
  • 手动式滑块

优点

出色的轻元素分析及最佳低能段分析性能
  • 图 1 所示为印刷电路板横截面的 5 kV 能谱,显示环氧树脂 C K 和 O K 峰之间的低能量 Sn M 峰。
可靠性
SDD 的设计采用了 Si3N4 窗口,其出色的材料性能和耐用性为 EDS 应用带来最坚固可靠的探测器。独特的模块设计意味着它们:
  • 耐腐蚀且耐冲击
  • 适合等离子清洗

APEX™ 软件平台

用于 Element EDS 系统的直观易用的 APEX™ 64 位软件平台是专门针对工业需求而开发的,可有效确保其高端性能和易用性。APEX™ 软件简化了成分分析,提供高质量的数据处理流程,结果准确可靠。用户界面可针对特定工作流程实现定制,提供多种布局、颜色和数据报告格式的选择。
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