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EDAX推出用于EBSD的新型直接电子检测探测器Clarity

星期三, 五月 6, 2020

X射线微区分析和电子衍射仪器的领导者EDAX公司推出了专为电子背散射衍射(EBSD)设计的世界上首台商用直接电子检测探测器。通过直接测量入射到检测器上的电子,Clarity系统提供了零噪声和零失真采集的EBSD花样。这种方法从采集路径中去除了传统的磷屏和光学系统,因此可获得更高灵敏度和更清晰的EBSD花样。

针对传统EBSD分析条件无法获得高质量结果的应用,Clarity可借助直接电子检测技术进行优化。Clarity适用于分析对电子束流敏感的材料,例如钙钛矿太阳能电池。在这种材料中,较高的束流会损伤内部晶体结果并抑制EBSD花样检测。采用较低的工作束流也有利于测试非导电样品,比如在检测陶瓷样品时荷电效应会干扰分析。Clarity还可在低电压环境下工作,减小的电子束样品作用体积可为纳米材料检测提供更高的空间分辨率。采集的高质量EBSD花样可改善HR-EBSD和应变分析。

“Clarity系统使花样质量得以改善,这在基于相关性计算的EBSD分析领域中带来了令人惊喜的可能性,并且已经在理解增材制造合金中复杂的位错结构与内部应力场之间的关系方面得到了可喜的结果。”Josh Kacher,佐治亚理工学院材料科学与工程学院助理教授如是说。

“Clarity是下一代EBSD检测技术,”阿美特克EDAX EBSD产品经理Matt Nowell说,“这项新技术打开了以前不太可能进行的研究和分析的大门。直接电子检测技术在电子显微镜领域的成功是众所周知的,EDAX很高兴将这种方法应用于EBSD的微观和纳米分析。”

EDAX EBSD家族的这一新成员为用户提供了高质量EBSD采集和面分布的独特选择,可快速轻松的解决晶体学微观结构和材料表征的难题。

欲了解更多信息,请访问www.edax.com.cn或发邮件至info.edax@ametek.com